Logic testing and design for testability
Hideo FujiwaraKateqoriyalar:
İl:
1985
Nəşriyyat:
MIT Press
Dil:
english
Səhifələr:
293
ISBN 10:
0262060965
ISBN 13:
9780262060967
Seriyalar:
MIT Press series in computer systems
Fayl:
PDF, 63.92 MB
IPFS:
,
english, 1985